集成电路封装测试工艺 课件
芯片切割 为何减薄? 为何减薄? 尺寸变大 变厚 切割划片困难 以TSOP为例:总厚900µm 有效厚300µ m 为例:总厚 有效厚 为例 背面减薄技术: 背面减薄技术: 研磨,化学机械抛光CMP,干式抛光, 研磨,化学机械抛光 ,干式抛光, 电化学腐蚀(Electrochemical Etching) 电化学腐蚀 湿法腐蚀, 湿法腐蚀,等离子腐蚀 有损坏,工艺改进: 有损坏,工艺改进:DBG(Dicing Before Grinding)先划片后减薄 DBT(Dincing By Thinning)减薄划片 优点:避免硅片翘曲, 优点:避免硅片翘曲,划片引起的边缘损害

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