嵌入式系统软_硬件协同设计技术综述_熊光泽

嵌入式系统软_硬件协同设计技术综述

嵌入式系统软/硬件协同设计技术综述

熊光泽,詹瑾瑜

(电子科技大学计算机科学与工程学院,四川成都610054)

牗gzxiong@uestc. edu. cn牘

也就是进行可测试性度量。可测试性度量方法需

满足精确性和简单性两个要求,所谓精确性是指可测试性度

量方法能准确地预计产品测试程度生成的困难,并且定位到

产品的某一部分,从而便于对产品设计进行更改;而简单性要

求则是指度量可测试性的计算量应小于测试程度生成的计算

量,否则,可测试性度量方法就会失去实际的应用意义。目前

可测试性度量方法主要是针对数字电路系统[34～36]。

4. 5. 2 可测试性机制的设计与优化

可测试性设计需首先将某种能方便测试的可测试性机制

引入到产品中,再提供获取被测对象内部测试信息,因此合

理、有效的设计可测试性机制是成功提高产品可测试性水平

的基础,现有的可测试性机制设计方法有:LFSR方法、电平灵

敏设计方法、IDDQ方法、边界扫描机制等[37～38]。可测试性机

制的引入虽然可以提高系统的可测试性指标、降低产品的全

寿命周期费用,但是会在一定程度上增加产品的成本。因此,

综合权衡可测试性机制的性能和费用,进行可测试性机制的

优化设计是可测试性设计技术能否成功应用的另一个重要因

素[39]。

4. 5. 3 测试信息的处理与故障诊断

为了提高产品质量和可靠性、降低系统全寿命周期费用

的目标,要求可测试性技术能够方便、快速地获取有关被测产

品状态的信息,确定产品工作正常与否、性能是否良好、是否

存在故障以及故障类型,以便采取设计调整、故障排除等后续

工作。在对复杂的对象进行测试时,难点往往不在于如何获

取测试信息,而在于如何对所获取的大量信息进行处理。例

如,对于一个具有N个测试点的数字电路而言,所能获取的测

试信息的总量为N*2N位,随着N的增大,测试信息总量将呈

指数型增长,因此能否对所获取的测试信息进行有效处理并

对可能存在的故障进行精确诊断是可测试性设计技术成功应

用的关键之一。

4. 6 低功耗设计技术

随着嵌入式系统广泛应用于手机、PDA等便携式电子设

备,功耗成为设计中需要重点考虑的性能指标。嵌入式系统