SZ-100 是最新推出的纳米粒子解析装置,可更高灵敏度、高精度地评价单一纳米粒子,并能完全解析纳米粒子的物质结构。该仪器被广泛应用于陶瓷粒子、金属纳米粒子、石炭、制药、病毒、颜料和涂料、化妆品、聚合物、食品和 CMP 等的检测。
SZ-100纳米粒度/Zeta电位分析仪

简介:
SZ-100 是最新推出的纳米粒子解析装置,可更高灵敏度、高精度地评价单一纳米粒子,并能完全解析纳米粒子的物质结构。该仪器被广泛应用于陶瓷粒子、金属纳米粒子、石炭、制药、病毒、颜料和涂料、化妆品、聚合物、食品和 CMP 等的检测。
高灵敏度、高精度的测量
全方位表征单一体系纳米尺度粒子
完全解析纳米粒子的物质结构
应用范围
● 陶瓷粒子 ● 金属纳米粒子 ● 碳黑 ● 制药 ● 病毒 ● 涂料
● 化妆品 ● 聚合物 ● 食品 ● CMP● 颜料、油墨
技术参数:
粒子直径测定
● 超宽动态光散射测量范围: 0.3nm~8000nm
●通过采用与NEDO国家项目共同开发的相关器,实现高性能化。
●在单一纳米粒子专用光学系统中,采用更低杂散光90°检测光学系统。
●双光路系统(90°和173°)适用于更宽浓度范围的样品测量,可以进行釉浆、颜料等高浓度样品以及胶束、聚合物等低浓度样品的测定。
Zeta电位测定
●通过安装的标准微型样品池,可以测定仅100μL的样品。
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