2012年材料分析测试方法复习题及解答

2012年材料分析测试方法复习题及答案

一、单项选择题（每题 3 分，共 15 分）

1．成分和价键分析手段包括【 b 】

（a）WDS、能谱仪（EDS）和 XRD （b）WDS、EDS 和 XPS

（c）TEM、WDS 和 XPS （d）XRD、FTIR 和 Raman

2．分子结构分析手段包括【 a 】

（a）拉曼光谱（Raman）、核磁共振（NMR）和傅立叶变换红外光谱（FTIR） （b）

NMR、FTIR 和 WDS

（c）SEM、TEM 和 STEM（扫描透射电镜） （d） XRD、FTIR 和 Raman

3．表面形貌分析的手段包括【 d 】

（a）X 射线衍射（XRD）和扫描电镜（SEM） (b) SEM 和透射电镜（TEM）

(c) 波谱仪（WDS）和 X 射线光电子谱仪（XPS） (d) 扫描隧道显微镜（STM）和

SEM

4．透射电镜的两种主要功能：【 b 】

（a）表面形貌和晶体结构 （b）内部组织和晶体结构

（c）表面形貌和成分价键 （d）内部组织和成分价键

5．下列谱图所代表的化合物中含有的基团包括：【 c 】

（a）–C-H、–OH 和–NH2 (b) –C-H、 和–NH2,

(c) –C-H、和-C=C- (d) –C-H、 和 CO

二、判断题（正确的打√，错误的打×，每题 2 分，共 10 分）

1．透射电镜图像的衬度与样品成分无关。 （ × ）

2．扫描电镜的二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。 （ √ ）

3．透镜的数值孔径与折射率有关。 （ √ ）

4． 放大倍数是判断显微镜性能的根本指标。 （ × ）

5．在样品台转动的工作模式下，X射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角

速度的二倍。（ √ ）

三、简答题（每题 5 分，共 25 分）

1. 扫描电镜的分辨率和哪些因素有关？为什么?

和所用的信号种类和束斑尺寸有关， 因为不同信号的扩展效应不同，例如二次电子产生的

区域比背散射电子小。束斑尺寸越小，产生信号的区域也小，分辨率就高。

2．原子力显微镜的利用的是哪两种力，又是如何探测形貌的？

范德华力和毛细力。

以上两种力可以作用在探针上，致使悬臂偏转,当针尖在样品上方扫描时，探测器可实时地

检测悬臂的状态，并将其对应的表面形貌像显示纪录下来。

3.在核磁共振谱图中出现多重峰的原因是什么？

多重峰的出现是由于分子中相邻氢核自旋互相偶合造成的。在外磁场中，氢核有两种取向，

与外磁场同向的起增强外场的作用，与外磁场反向的起减弱外场的作用。根据自选偶合的